BQB认证即蓝牙认证。简言之就是，如果您的产品具有蓝牙功能并且在产品外观上标明蓝牙标志，必须通过一个叫做BQB的认证，具体BQB认证由来及操作形式请参看下文。

    蓝牙技术实质：一种短距离无线通信标准，工作在2.45GHz(2402-2480MHz) ISM频段，总共79个Channel。每个收发机配置了符合IEEE 802标准的48位地址，数据频率为1Mbps，使用扩频和跳频技术，其工作范围约10m-100m的距离。

    要了解BQB认证就必须先了解Bluetooth SIG(蓝牙特别兴趣小组)。1998年5月，五家世界著名的大公司－－爱立信、诺基亚、东芝、IBM和英特尔联手推出了蓝牙(Bluetooth)计划 ，此计划得到了许多厂商的响应和支持。Bluetooth SIG现有成员9000多名，包括爱立信，英特尔，联想，摩托罗拉，微软，诺基亚，东芝 这七名Promoter初始成员。为了更好的发展蓝牙技术以及保证不同设备连接的互通操作的兼容性，Bluetooth SIG颁布了Qualification Program Reference Document v2.0（简称PRD 2.0），来监督控制蓝牙技术的规范使用。必须是 Bluetooth SIG 成员；产品必须已根据Bluetooth 资格认证流程 (BQP) 通过认证，才能使用Bluetooth徽标。这就要求所有蓝牙产品必须通过BQB认证才能进行销售与使用。

BQB认证流程

    首先必须成为Bluetooth SIG成员，成员分两种一种是Associate付费成员(需缴年费$7500)，另外一种是Adopter不需付费成员，可以依据具体的需求来申请不同种类的会员。

成员必须依照PRD 2.0的要求完成所有的步骤。蓝牙资格认证程序是为了更好的确保互通性，验证与蓝牙规格的一致性，加强蓝牙SIG的执行力度，纠正潜在的Bluetooth商标的滥用和提供给会员一个更高的测试标准来展现其产品与其它蓝牙设备协同工作的稳定性和品质。新程序通过大量的流程自动化，使通过资格认证流程的时间减少以及降低费用的同时来推动蓝牙设备更加有效的发展。

按照测试类型来分，BQB 测试包含如下测试项目

RF Testing

Protocol Conformance Test

Profile Conformance Test

Profile Interoperability Test

    所有测试项又分为A, B, C, D四类, 细则如下：

    测试应在满足以下设备要求的测试设备上执行，并且测试证明应满足证明要求。                                                

由于Component，Chip，Module都是经过Pre-Qualified，使用这些Component的End-Product仅需要RF和Profile的测试。

    对于End-Product，如果Component是经过认证的话，只需要测试RF，另外IOP测试是必须的，即使不支持其它Profile。

    下表是一个最简化的产品的认证流程：

Simplify qualification process

23项RF Test

1. Output Power

2. Modulation Characteristics

3. Power Control

4. Initial Carrier Frequency Tolerance

5. Carrier Frequency Drift

6. Sensitivity—single-slot packets

7. Sensitivity—multi-slot packets

8. Maximum Input Level

9. –20dB Bandwidth

10. Power Density

11. TX Output Spectrum-Frequency Range

12. TX Output Spectrum-ACP

13. C/I Performance

14. Blocking Performance

15. Inter-Modulation

16. EDR Relative Transmit Power

17. EDR Carrier Frequency Stability and Modulation Accuracy

18. EDR Differential Phase Encoding

19. EDR In-band Spurious Emissions

20. EDR Sensitivity

21. EDR BER Floor Performance

22. EDR C/I Performance

23. EDR Maximum Input Level

Profile Tests